高精度光學膜厚監控儀
用于鍍制增透膜及各種光學濾光片的真空鍍膜系統的膜厚控制 ■ 高穩定性光纖光學系統和超低噪音電路設計，實現+0.001%超低噪音 ■ 測光方式 對應透射、反射可選 ■ 運用先進的成膜
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用于鍍制增透膜及各種光學濾光片的真空鍍膜系統的膜厚控制
■ 高穩定性光纖光學系統和超低噪音電路設計，實現+0.001%超低噪音
■ 高穩定性光纖光學系統和超低噪音電路設計，實現+0.001%超低噪音
■ 測光方式 對應透射、反射可選
■ 運用先進的成膜計算控制技術,光透過率的極值監控能力可達+0.05%
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